在實(shí)際使用RFID檢測機(jī)情況下，RFID檢測機(jī)裝置(例如天線)的設(shè)置位置/角度、RFID讀取裝置與RFID芯片的距離、環(huán)境溫度、環(huán)境濕度、環(huán)境紫外線強(qiáng)度、電磁干擾、金屬干擾、設(shè)備的包裝方式、儲藏貨物特性、RFID芯片的振動強(qiáng)度等未基于實(shí)際環(huán)境進(jìn)行性能測試的RFID系統(tǒng)，系統(tǒng)整體性能不穩(wěn)定，不能滿足生產(chǎn)需要，讀取距離、速度、準(zhǔn)確率、穩(wěn)定性不能滿足實(shí)際需要，嚴(yán)重影響了實(shí)際應(yīng)用效果，那么，下面一起了解下RFID檢測機(jī)介紹吧!

　　針對這一問題，RFID檢測機(jī)系統(tǒng)在實(shí)際實(shí)施過程之前非常需要模擬實(shí)際生產(chǎn)環(huán)境進(jìn)行，盡可能與生產(chǎn)實(shí)際環(huán)境完全一致的深度測試，而目前市場上的RFID測試系統(tǒng)主要圍繞RFID磁場強(qiáng)度、讀取率等參數(shù)

　　RFID檢測機(jī)性能測試的概念和方法一直很完善。 該標(biāo)準(zhǔn)的缺點(diǎn)是將RFID系統(tǒng)作為測試對象，而不是系統(tǒng)內(nèi)的各機(jī)器。 因此，無論系統(tǒng)中的哪個部分發(fā)生更改，測試結(jié)果都可能無效。 例如，更換RFID標(biāo)簽時，識別范圍將根據(jù)新的RFID標(biāo)簽的天線設(shè)計而變化，讀取速度也將受到新的RFID標(biāo)簽的IC設(shè)計的影響，原測試結(jié)果將無法再利用。 然后，為了獲得整個RFID系統(tǒng)的性能參數(shù)，采用逐個測試不同設(shè)備組合的方法，給測試人員帶來很大的負(fù)擔(dān)。

　　雖然目前市場上存在一些RFID性能測試系統(tǒng)，但這些產(chǎn)品使用的頻段窄，功能單一，對獲得更有價值的RFID產(chǎn)品性能數(shù)據(jù)庫貢獻(xiàn)不大，投入產(chǎn)出比不太理想。 基于RFID技術(shù)的日趨成熟，市場對RFID產(chǎn)品的需求急劇增加，面對種類繁多、市場雜亂的RFID市場，企業(yè)選擇適合自己的產(chǎn)品實(shí)屬不易; 另外，監(jiān)管部門由于缺乏合適的檢測設(shè)備，無法插手各種RFID產(chǎn)品的監(jiān)管工作。 縱觀整個行業(yè)，RFID產(chǎn)品的性能數(shù)據(jù)是行業(yè)內(nèi)急需獲得的數(shù)據(jù)，這些數(shù)據(jù)幾乎與行業(yè)發(fā)展方向有關(guān)。 大規(guī)模性能測試平臺是可靠、有效、真實(shí)數(shù)據(jù)的線索，市場迫切需要大規(guī)模完整的RFID性能測試系統(tǒng)。

　　RFID檢測機(jī)性能測試系統(tǒng)。 集成市場上成熟的各標(biāo)準(zhǔn)化檢測設(shè)備，測試RFID設(shè)備在不同環(huán)境(溫度、濕度、電磁強(qiáng)度、光強(qiáng)、儲存貨物特性)、不同工作方式，在RFID設(shè)備投入使用之前，可以在實(shí)驗室模擬實(shí)際生產(chǎn)環(huán)境情況進(jìn)行RFID性能測試，并根據(jù)測試結(jié)果提出滿足RFID性能需要的部署方案;

　　1)在RFID檢測機(jī)設(shè)備應(yīng)用現(xiàn)場進(jìn)行RFID性能測試，找出RFID設(shè)備性能不足的原因，并相應(yīng)改進(jìn);

　　2)形成RFID檢測機(jī)性能測試專家?guī)?，包括可以對特定的RFID設(shè)備測試不同條件下的性能曲線等。

　　許多用戶不僅能降低上述風(fēng)險，而且能對現(xiàn)有的RFID檢測機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行診斷和優(yōu)化。 為RFID系列產(chǎn)品的測試標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范、RFID測試體系的制定，以及RFID技術(shù)的應(yīng)用測試提供平臺。 便于RFID生產(chǎn)和科研機(jī)構(gòu)加快RFID科技成果轉(zhuǎn)化，同時為企業(yè)選擇和實(shí)施RFID技術(shù)提供參考依據(jù)。